Chapter 6 . Custom Integrated Circuits

نویسندگان

  • Jonathan Allen
  • Jacob White
  • Steven J. Decker
  • Mark W. Reichelt
  • Filip Van Aelten
چکیده

ion). 13 S. Devadas and K. Keutzer, "Necessary and Sufficient Conditions for Robust Delay-Fault Testability of Logic Circuits," in the Proceedings of the Sixth MIT Conference on Advanced Research on VLSI (Cambridge: MIT Press,

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

ثبت نام

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Chapter 4 . Custom Integrated Circuits

ion, but total system optimization implies the simultaneous specification of all 1 Tel Aviv University, Faculty of Engineering, Tel Aviv, Israel.

متن کامل

Application-Specific Integrated Circuits (ASICS)

5 ASIC Technologies 8 5.1 Full Custom Design . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8 5.2 Standard Cell ASIC Technology . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 5.3 Gate Array ASIC Technology . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10 5.4 Sea-of-Gates ASIC Technology . . . . . . . . . . . ....

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

ثبت نام

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

عنوان ژورنال:

دوره   شماره 

صفحات  -

تاریخ انتشار 2009